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1、SEM是扫描电镜,TEM是透射电镜扫描电镜可以观察物体的表面形貌,也可用于做成分的定性和半定量分析透射电镜样品需要做成薄片,可用于观察内部显微结构,也可用于选区电子衍射等,也可用于成分分析.。

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